U盘测试

描述

你知道吗？一个质检及格的U盘从10层楼高处自由落体到地并不会带来任何数据损失！而一个质检及格的ACM牌U盘，采用北航最尖端的RP材料技术，结构上符合RP守恒定律，从100层高楼自由落体到地可以毫发无伤！

这天，突然来了一位火星人，他说想在火星上测试一下这种ACM牌U盘是否能通过H层高楼的自由落体测试，你需要具体测出在哪一层U盘会摔坏（即在第P层测试会摔坏，在P-1层不会坏，或者在楼顶摔也不会坏）。

实验总是有风险的，摔坏的U盘不能再参加测试，可惜这种U盘太畅销了，你只能带有限的N个U盘去火星测试。所以你需要知道在H和N确定的情况下，制定一套方案，宁可把这N个U盘砸坏，也要找到一个最小的次数K，使得无论U盘质量如何，总可以在K次实验后完成测试。

 

输入

输入文件有多组数据。

每组数据只有一行，即两个正整数N和H（1≤N≤15, 1≤H≤1000）。

输入以0 0结束。

输出
对每组数据，只需输出一行，为最少的次数K。

样例输入
1 2
3 7
4 15
4 16
0 0
样例输出
2
3
4
5